芯片测试就是使用专用的自动测试设备（ATE）检查制造出来的芯片其功能和性能是否满足一定的要求。因此，芯片测试会包含多方面的内容，不同类型的芯片对测试也会有不同的测试要求，往往很难用一套自动测试设备满足多种芯片的测试要求。
泛华提出一种通用测试平台设计模式，该平台由PXI控制单元、通用测试平台，待测芯片适配器，以及信号转接单元和平台测试软件等部分组成。可以通过替换最小电工作环境和适配器接口部件来适应不同的芯片测试要求，同时在系统软件方面通过测试流程管理平台+专业测试工具包的形式在满足当下测试项的同时提供足够的扩展能力。
测试项 | 测试参数 | |
1 | PSCross&Static IDD Test | Cross IDD |
2 | PSIIH Current Test | IIH |
3 | PSIIL Current Test | IIL |
4 | PSOpen-Short Test | —— |
5 | PSVOH Voltage Test | VOH Voltage |
6 | PSVOL Voltage Test | VOL Voltage |
7 | PSVoltage Supply Finish | —— |
