电子产品在生产制造中，产品因设计、原材料、工艺问题会出现两类质量问题：性能参数不达标和潜在缺陷。老化测试通过让半导体超负荷工作使潜在缺陷提前显现，常施加加速环境应力，温度变化老化效果佳。本系统以温度控制提供老化环境，可同步进行元器件功能测试与筛选。
系统由三大部分组成：测量与控制、调理与路由、温度环境。测量与控制部分是整个系统的核心，主要有LCR表，漏电流测试仪、信号发生器、精密编程电源等仪器。所有的硬件测量与控制资源通过信号调理和大规模的矩阵路由接入温度控制环境中。系统可在室温至180℃环境温度范围下对电子元器件进行各项功能、电气指标的自动化测试，同时对被测件进行性能评判及筛选，并能测试包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管、变压器等200多种不同种类的元器件。
