元器件老化测试系统

元器件老化测试系统

探井设备中的电路板采用的电子元器件在入厂前需要进行从室温到高温的功能性定性测试,其目的是为电路板的装配做元器件的筛选,即对元器件在老化过程中进行功能性测试,保证器件的高可靠性。

探井设备中的电路板采用的电子元器件在入厂前需要进行从室温到高温的功能性定性测试,其目的是为电路板的装配做元器件的筛选,即对元器件在老化过程中进行功能性测试,保证器件的高可靠性。
本设备是北京中科泛华测控技术有限公司北京系统开发部为某知名钻探工程有限公司设计的电子元器件老化测试设备,规格型号为ATE-U09E-HT。设备由美国NI公司的高性能硬件与软件,配合国内外先进的模块化仪器设备,结合我公司自主开发的信号路由矩阵及标准软件组成,系统除装卸件采用手动完成外,测试过程由系统自动完成。
本设备采用了模块化、标准化组件和元件,可以在室温至180摄氏度环境温度下对电子元器件进行功能、电气指标的自动化测试,并对测件性能进行评判,可测试8类元器件。

 

 

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