泛华电子元器件老化测试设备主要实现生产线电路板、电子元器件、芯片等的进厂检测。设备使用先进的模块化仪器及硬件，同时采用泛华自主研发的信号路由矩阵、夹具及通用软件测试平台。
电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺等原因引起产品的质量问题可概括为两类，第一类：产品的性能参数不达标；第二类：潜在的缺陷。老化是借由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免电子产品在使用早期发生故障。老化测试通常需要对其施加加速环境应力，常用的环境应力中，以温度变化的老化效果最好。本系统即通过控制温度来提供老化环境，同时进行元器件的功能测试及筛选。
系统功能主要包括在室温至180℃环境下对电子元器件的动态老化测试，即可任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔，并在各个温度点下对电子元器件进行各项功能、电气指标的自动化测试，进行性能评判、筛选。本系统适用于多种不同类型的元器件测试，包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管、变压器等，种类达二百多种，并方便扩展。
系统实现了自动化测试过程控制，操作简单，除装卸件采用手动完成外，其它测试过程均由系统自动完成。软硬件充分考虑异常处理机制，可长时间连续无故障运行。
系统支持多种信号、多种参数的生成和测量；系统中应用了NI的数据采集卡、数字万用表、波形发生器、数字示波器及安捷伦的LCR表等各种仪器，并支持更多独立仪器与传统设备，保 证硬件的适用性，具有广泛硬件基础，方便今后的维护与扩展。
系统集成泛华研发的大规模信号路由矩阵，资源路数可达192（×8）×16，同时兼容10MHz带宽高频信号及3A功率信号传输。通道间绝缘大于1000M欧姆，线路阻抗小于600m欧姆，串扰1MHz小于-60dB。老化板适配夹具耐温可达270℃。
元器件接口可基于被测件任意定制；仪器接口采用模块化标准设计，保证可更换，拆卸方便，并且能够适应众多仪器。保证了系统具有极大的扩展兼容性与适用范围。
在泛华Test on Demand测试序列流程管理软件基础上，方便的实现并行序列的编辑和运行。实现众多电子器件的精确的功能测试，包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管以及变压器等，测试内容涵盖电阻、电容、电感、纹波抑制比、耐压等。
具有强大的数据存储、曲线分析与报表生成功能，可分类保存不同温度点下，同一块老化板上不同元器件的测试曲线，方便查看与数据回溯。
